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簡要(yao)描述:供應泰克示波器P6248 P6247 P7504 差分探頭P6246、P6247和P6248差分探頭通過P6248、P6247和P6246,用戶可以在磁盤驅動器、數字1DC設計(RAMBUS)和通信應用(干兆位以太網、IEEE-1394 Firewire和光纖通道)應用中常見的高帶寬信號上執行時域測量或頻域測量。P6248包括各種配件,應用通信(xin)(千兆位以太網、IEE-1394、光纖通道(dao))
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品牌 | TeKtronix/美國泰克 | 產地類別 | 進口 |
---|---|---|---|
類型 | 數字示波器 | 通道數 | 4 |
帶寬 | 500MHz | 采樣率 | 1025GS/s |
記錄長度 | 128k | 波形捕獲率 | 36000wfms/s |
外形尺寸 | 300mm,300mm | 重量 | 4kg,4kg |
電動機功率 | 210KW | 外形尺寸 | 300mm,300mm |
重量 | 4kg,4kg | 應用領域 | 能源,電子,航天,汽車,電氣 |
供應泰克示波器P6248 P6247 P7504 差分探頭
供應泰克示波器P6248 P6247 P7504 差分探頭
通過P6248、P6247和P6246,用戶(hu)可以在磁盤驅(qu)動器(qi)、數字(zi)1DC設計(RAMBUS)和通信應(ying)用(干兆位(wei)以太網、
IEEE-1394 Firewire和光(guang)纖通道(dao))應用中常見的高(gao)帶(dai)寬(kuan)信號上(shang)執行時域(yu)測量(liang)(liang)或頻(pin)域(yu)測量(liang)(liang)。P6248包括各種配件,
應用通信(千兆位以(yi)太網(wang)、IEE-1394、光纖通道)半導線檢(jian)定(RAM8US)P6247差分(fen)探頭 泰克P6248產品說(shuo)明(ming),
1GHz,1.5GHz低(di)壓差分探(tan)頭200 k? / <1 pF,1X、10X,±25 V
P6247差分探頭(tou) 泰克P6248產品(pin)說明,1GHz,1.5GHz低壓差分探頭(tou)200 k? / <1 pF,1X、10X,±25 V
磁盤驅動器(qi)讀(du)通道設(she)計通信脈(mo)沖形狀(zhuang)一致性測試抖動、串擾、BERT測量(liang)定(ding)位跳地
支持RAMBUS探(tan)測(ce)和IEEE-1394互(hu)連接入。小型探(tan)針和種(zhong)類的探(tan)針配(pei)件,使這些探(tan)頭可以簡(jian)便地(di)實現手(shou)動探(tan)測(ce)表面安裝器件,
同時(shi)保持高CMRR。P6246、P6247和P6248為檢驗磁盤驅動器讀(du)通(tong)道的(de)電(dian)子設計和定時(shi)分(fen)析、
檢修與高(gao)速邏輯有關(guan)的地面反跳問題(ti)提供了理想的解決方案(an)。還可(ke)以使用這(zhe)些(xie)探頭,對(dui)高(gao)速通(tong)信信號執行脈沖形狀(zhuang)或(huo)串擾一致性測試。
回(hui)收P6247,出售P6247,出租P6247,置換(huan)泰克示波(bo)器低壓(ya)差分(fen)探(tan)頭,回(hui)收及供應泰克低壓(ya)單端探(tan)頭:
P6243,P6245,P7240,TAP1500,TAP2500,TAP3500,TAP4000.回收及供應泰克高壓(ya)差分探頭:P6251,P5200A,P5202A,P5205A,
P5210A,THDP0200,TMDP0200,THDP0100,TDP0500,TDP1000.回收(shou)P6248,出(chu)售(shou)P6248,出(chu)租P6248,置換泰(tai)克(ke)示(shi)波器(qi)低壓差分探頭,
P6248泰克(ke)電流探(tan)(tan)頭(tou),美國泰克(ke)P6248,P6248差分(fen)探(tan)(tan)頭(tou)的技術特點(dian):P6248,P6247,P6246差分(fen)探(tan)(tan)頭(tou),可使用戶(hu)中常(chang)見的磁盤(pan)驅動(dong)器(qi),
數字,P6246,P6247和(he)P6248的磁盤驅(qu)動器讀取,電子渠道,設(she)計驗證和(he)時序(xu)分析(xi)與高(gao)速(su)邏輯(ji)關聯的問題進行故障排除(chu)
地面反射的理想選(xuan)擇。它們(men)也(ye)可以(yi)用于脈沖形狀或高(gao)速通信(xin)信(xin)號串(chuan)擾一(yi)致性測(ce)試(shi)。
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